Leica Microsystems y Pall Corporation, en colaboración con Itainnova y DEMLab, organizaron el pasado 9 de noviembre un seminario práctico sobre los retos y exigencias del análisis de limpieza técnica (cleanliness) de componentes en automoción según normas ISO 16232 y VDA 19, así como en otros sectores industriales. Sus expertos en extracción y análisis de contaminación mostraron las innovaciones en cabinas y sistemas de extracción, así como las posibilidades de análisis ofrecidas por los sistemas Emspira 3 y DM6 M LIBS.